轴类测量仪，特别是光学轴类测量仪，其工作原理主要基于光学的干涉和衍射现象。这种测量方法通过非接触的方式获取零件的尺寸和形状等信息，具有高精度、快速测量和非破坏性等特点。

　　光学轴类测量仪的具体工作原理

　　光源与平行光：测量过程中，光学轴类测量仪的光源会发出光线，这些光线经过透镜后被聚焦成平行光线，然后射向被测物体。

　　干涉或衍射：当平行光线照射到被测物体上的特定标记或标尺时，会发生干涉或衍射现象。干涉现象会产生规则的干涉条纹，而衍射现象则会产生特定的衍射图样。

　　信号接收与转化：光学轴类测量仪中的检测器会接收到这些干涉或衍射后的光信号，并将这些光信号转化为电信号。这个过程通常涉及到光电转换器。

　　计算与数据处理：通过计算和数据处理，可以从电信号的变化中得出被测物体的轴线精度、直线度等参数。这些计算和处理可以通过仪器内部的处理器或者连接的计算机来完成。

　　光学原理和技术

　　光学轴类测量仪可以采用不同的光学元件和技术，常见的光学原理包括激光干涉法、多点投影法、干涉比较法等。

　　技术特点

　　光学轴类测量仪通常具备以下技术特点：

　　高精度：测量精度可达微米级甚至纳米级，满足高精度制造的需求。

　　非接触式测量：避免了传统接触式测量可能带来的划伤、磨损等问题，保护工件表面。

　　快速测量：测量速度快，大大提高了生产效率。

　　自动化程度高：可与计算机、机器人等设备连接，实现自动化测量和数据处理。

　　应用范围

　　光学轴类测量仪的应用范围非常广泛，包括但不限于汽车、航空航天、精密机械和电子等行业。

　　综上所述，光学轴类测量仪通过利用光的干涉和衍射原理，实现了高精度、高速度的非接触式测量。如果您对光学轴类测量仪的原理还有其他疑问，建议咨询专业的测量设备供应商或技术人员。