光学轴类测量机的校准规范主要参考JJF1933 - 2021光学轴类测量仪校准规范，以下是关于该规范的详细介绍，快来跟着小编一起来了解一下吧!

　　适用范围

　　本规范适用于轴径测量上限至150mm、轴长测量上限至1000mm的光学轴类测量仪的校准，同时适用于新制造、使用中及修理后的光学轴类测量仪的首次校准、后续校准以及使用中的检查，以确保这类设备能够准确可靠地工作。

　　校准项目及对应标准件

　　上顶尖轴线与回转主轴的同轴度

　　使用标准芯轴AUBAT - XZ300S进行校准。当仪器的轴长测量上限小于或等于200mm时，用一根标准芯轴，其长度不小于仪器轴长测量上限的70%;当仪器的轴长测量上限大于200mm时，用两根不同长度的标准芯轴，其中一根标准芯轴的长度为200mm，且至少有一根标准芯轴的长度不小于仪器轴长测量上限的70%。

　　垂直导轨移动与两顶尖连线之间的平行度

　　同样使用标准芯轴AUBAT - XZ300S进行校准。

　　轴径测量的示值误差、重复性

　　采用标准轴径规AUBAT - 2510ZG进行校准。标准轴径规可以只有1个直径尺寸，也可以同时具有多个直径尺寸(标准轴径规或阶梯型标准轴规)，在仪器轴径测量范围内大致均匀分布5个测量点，选取相应直径的标准轴径规依次进行测量。

　　轴长测量的示值误差、重复性

　　使用标准轴长规AUBAT - 2570CG进行校准。

　　校准环境要求

　　规范详细规定了环境条件(如温度、湿度)对校准过程的影响控制，以保证结果的有效性与可重复性。

　　校准步骤及方法

　　准备阶段

　　需要确认被校仪器的状态良好，并且按照制造商提供的说明书完成预热。

　　实施测量

　　上顶尖轴线与回转主轴的同轴度测量：将标准芯轴安装在被校光学轴类测量仪的两顶尖之间，把装有测微计的磁性表座安装在回转工作台上随主轴一起转动，使测头与标准芯轴上端外圆面垂直接触，转动回转主轴两周，测微计的最大示值与最小示值之差即为上顶尖轴线与回转主轴的同轴度。

　　垂直导轨移动与两顶尖连线之间的平行度测量：将标准芯轴安装在被校光学轴类测量仪的两顶尖之间，把测微计牢固安装在测量滑架上，使测头沿光轴方向垂直接触标准芯轴的母线，测量滑架沿垂直导轨(Z轴)移动，移动距离应大于仪器轴长测量上限的70%，测微计的最大示值与最小示值之差即为垂直导轨与两顶尖连线在该方向的平行度。将测微计位置相对标准芯轴转90°，用同样的方法，测量垂直导轨与两顶尖连线在该方向的平行度。

　　轴径测量的示值误差测量：在仪器上读取标准轴径规规定方向上的中截面直径，重复测量3次，取3次结果的平均值作为仪器在该点的直径测得值，该值与标准轴径规的直径实际值之差即为该点轴径测量的示值误差。

　　轴长测量的示值误差测量：用标准轴长规进行测量，具体测量方法规范中有相应说明。

　　数据处理

　　在数据分析时应采用适当统计技术来评估不确定度等因素。